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  • 新编大学计算机基础-计算机科学概论

    ¥12.6(3.4折)定价:¥37.0

    《新编大学计算机基础:计算机科学概论》以教育部颁布的《关于进一步加强高等学校计算机基础教学的意见暨计算机基础课程教学基本要求》为指导,在作者多年教学研究和改革成果的基础上,结合全国计算机等级考试二级公共基础知识的新要求而编写。《新编大学计算机基础:计算机科学概论》主要内容包括计算机的发展、数制与编码、计算机硬件结构与组成原理、操作系统基础、计算机网络、信息安全、数据结构与算法、软件工程基础、数据库基础等。《新编大学计算机基础:计算

  • 新编大学计算机基础(Windows7+Office2010)

    ¥20.6(4.3折)定价:¥48.0

    本书用浅显的语言进行基本理论介绍, 辅助以相应的实例对理论和概念加以应用。提供的参考网站和参考文献包括新知识、新技术、新术语的相关解释或背景链接, 有利于拓展学生的知识面。本书注重结构的系统性与完整性, 力求深度和广度的平衡, 使非计算机专业学生把计算机技术和自己的专业领域相结合, 提高计算机应用能力和信息素质...

  • 大学计算机基础 (Windows 10+Office 2016)

    姚志鸿  /  2021-08-01  /  科学出版社
    ¥41.0(7.2折)定价:¥57.0

    本书共8章,内容包括计算机技术概述、计算机系统、操作系统、Office 2016办公软件、计算机网络技术、软件技术、数据库技术和计算思维...

  • 半导体器件电离辐射总剂量效应/辐射环境模拟与效应丛书

    ¥98.6(7.3折)定价:¥135.0

    辐射在半导体器件中电离产生电子空穴对,长时间辐射剂量累积引起半导体器件电离辐射总剂量效应。电离辐射总剂量效应是辐射效应中最常见的一种,会导致器件性能退化、阈值电压漂移、迁移率下降、动态和静态电流增加,甚至功能失效,因此在辐射环境中工作的半导体器件和电子系统必须考虑电离辐射总剂量效应问题。本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试

  • 区域水土流失过程模型与应用

    姚志宏  /  2022-08-01  /  科学出版社
    ¥121.0(7.2折)定价:¥168.0

    本书从区域水土流失过程及其影响因子出发,利用地面调查、野外试验、遥感观测和GIS空间分析等方法进行水土流失及其环境因子调查和分析,构建区域水土流失过程数学模型。以ArcGIS Engine组件为基础,在微软的.NET Framework 4.0下,用C#语言设计与开发区域水土流失过程模型系统,完成大中尺度流域(区域)水土流失过程模拟与分析,并在典型流域进行应用,分析大中尺度流域水土流失过程中径流泥沙变化规律和径流泥沙对降雨、土地利用/

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